Zāles efekta ierīce

Uzlabota elektriskā transporta raksturojuma platforma

DX -3000 ir daudzfunkcionāla testēšanas platforma, kas paredzēta visaptverošai elektriskā transporta īpašību analīzei. Tas apvieno zāles efektu, magnētisko rezistenci un IV raksturojumu vienā integrētā sistēmā. Optimizējot instrumentācijas izvēli un novēršot manuālo elektroinstalācijas sarežģītību (telpas/zemas temperatūras iestatījumus), tas pilnveido datu iegūšanu precizitātei un atkārtojamībai. Saderīgs ar elektromagnētiem vai supravadošiem magnētiem (lietotāja konfigurējami), tas atbalsta viedās paraugu zondes un pielāgojamu programmatūru ātriem, automatizētiem mērījumiem.

• Efektīva darbplūsma: Modulāras paraugu kartes Iespējot ātru uzstādīšanu (atbalsta 2–4 ​​paraugus vienlaicīgi ar papildinājumiem).
• Plašs mērījumu diapazons: Pretestības analīze no 0. 1mΩ līdz 100 gΩ (paplašināma, izmantojot augstsprieguma/pretestības moduļus).
• Adaptīvā pārbaude: Programmējami strāvas/magnētiskā lauka parametri dinamiskās zāles un pretestības novērtēšanai.
• Reālā laika vizualizācija: Automatizēta programmatūra ģenerē starpposma rezultātus, līknes (IV, RT, RH) un galīgos parametrus (nesēja blīvums, mobilitāte, lokšņu pretestība).
• Magnētiskā elastība: Nulles lauka stabilizācija, ilgtermiņa lauka stabilitāte un ātras lauka kontrole, izmantojot integrētus Gausa skaitītājus.
• Temperatūras daudzpusība: Izvēles kriogēnie moduļi (1,6k - 800k) mainīgas vides pētījumiem.

• Pusvadītāji: Sige, ingaas, hgcdte, sic, algaas utt.
• Vadītspējīgas filmas: Metāli, TMR struktūras, caurspīdīgi oksīdi.
• Augstas pretestības substrāti: Daļēji iedvesmojoši GaAs, Cdte, Gan.

1. Zāles efektu analīze:
   Izejas: pretestība, zāles koeficients, nesēja tips/koncentrācija, mobilitāte.
2. Magnētiskās pretestības profilēšana:
   Metrika: ΔR, ΔR/R%, RH izliekumi.
3. Dinamiskais raksturojums:
   IV kartēšana mainīgā temperatūrā/laukos.
   No temperatūras atkarīgā pretestība (RT) zem fiksētiem laukiem.

Elektriskie moduļi: Keitlija precizitātes instrumenti (pašreizējie avoti, nanovoltmetri, slēdžu matricas).

Magnēta opcijas:

• Dx -100: 1,5T max (60 mm pole, ± 1% vienveidība).
• Dx -130: 2,5t Max (100 mm pole).
• Dx -180: 2,7t max (120 mm pole).

Termiskā kontrole(Pēc izvēles):

Šķidrs slāpeklis (80–500k), kriostats (4–325k), kompakti ledusskapji (45–325K).

Parauga izmēri:

• Mazas/zondes kartes: 12x12mm² līdz 30x30mm².
• Lielas kartes: 50x50mm².

Elektriskās robežas:

• Strāva: ± 100pa - 100mA (izšķirtspēja: 100Pa).
• Spriegums: ± {{0}}. 1μV - 30V (izšķirtspēja: 0,1μV).
• Maksimālais nesēja blīvums: 1 × 10¹⁸ cm⁻³.

Precizitātes kritēriji:

• Lauka/biezuma nenoteiktība<1%.
• Optimālā B lauka/biezuma attiecība: 1T/mm.

• Parauga sagatavošana: Atbalsts 4-/6- stieples konfigurācijas.
• Programmatūra: Pilnīga automatizācija ar datu reģistrēšanu, līknes montāžu un parametru ieguvi.
• Piemērotība: Zema enerģijas patēriņš (<1mV sample excitation).

Pusvadītāju pētniecība un attīstība, magnētiskā materiāla pētījumi, plānas filmas ierīces validācija un uzlabotas materiālu zinātne.

(Piezīme: pielāgotas konfigurācijas, kas pieejamas esošajām laboratorijas iestatījumiem vai specializētām prasībām.)